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Microscopy Ontology (MO)

Diese Version:
https://w3id.org/pmd/mo/1.1
Revision:
1.1
Autoren:
https://orcid.org/0000-0002-3717-7104
https://orcid.org/0000-0002-7094-5371
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prov-o#
prov-o-inverses#
co
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JSON-LD RDF/XML N-Triples TTL
Lizenz:
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Zitieren als:
Markus Schilling, June Lau, Bernd Bayerlein. (July 22th, 2024) MO: microscopy ontology. Version 1.1, https://w3id.org/pmd/mo/
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Ontology Specification Draft

Microscopy Ontology (MO): überblick zurück zum Inhaltsverzeichnis

Diese Ontologie beinhaltet die folgenden Klassen und Eigenschaften.

Klassen

Annotation Properties

Querverweis für... Microscopy Ontology (MO) Klassen, Object Properties und Data Properties zurück zum Inhaltsverzeichnis

Dieser Abschnitt enthält Details für jede Klasse und jedes definierte Property, die definiert wurden durch Microscopy Ontology (MO).

Klassen

3D X-Koordinatec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/3DXCoordinate

Die X-Koordinate in einem dreidimensionalen Koordinatensystem.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
3D-Koordinaten c

3D Y-Koordinatec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/3DYCoordinate

Die Y-Koordinate in einem dreidimensionalen Koordinatensystem.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
3D-Koordinaten c

3D Z-Koordinatec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/3DZCoordinate

Die Z-Koordinate in einem dreidimensionalen Koordinatensystem.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
3D-Koordinaten c

3D-Koordinatenc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/3DCoordinates

Koordinaten, die einen Punkt im dreidimensionalen Raum spezifizieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
coordinates c
hat Sub-Klassen
3D X-Koordinate c, 3D Y-Koordinate c, 3D Z-Koordinate c

4D-Rastertransmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/4D-ScanningTransmissionElectronMicroscopy

4D-STEM is a technique that adds an additional dimension of information, time, to STEM imaging, allowing the study of dynamic processes in materials at high spatial and temporal resolutions.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastertransmissionselektronenmikroskopie c

Abbildungsfilterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ImageFilter

An image filter is a device or component used in imaging systems, such as microscopy or photography, to modify the appearance of an image by selectively altering certain characteristics. Filters can be used to adjust contrast, brightness, color balance, and other image properties. They are often used to enhance specific features or to correct for distortions caused by lighting conditions or optical imperfections.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Optisches Element c
hat Sub-Klassen
CEOS-CEFID Filter c, Gatan Abbildungsfilter c

Aberrationc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Aberration

Abweichung vom idealen oder erwarteten Verhalten, häufig im Zusammenhang mit optischen Systemen verwendet.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Chromatische Aberration c, Sphärische Aberration c

Abtastratec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanRate

Die Geschwindigkeit, mit der Daten gescannt oder aufgezeichnet werden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
testing rate c

Alterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Age

Die Dauer, die ein Objekt oder Organismus existiert hat.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
duration c

Angegebene Vergrößerungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IndicatedMagnification

Angegebene Vergrößerung bezieht sich auf den Vergrößerungsgrad, der von den Steuerungen oder Anzeigen des Instruments in einem Elektronenmikroskop angezeigt wird.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Vergrößerung c

Anodec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Anode

The anode is the positively charged electrode in an electrochemical cell or other electrically driven systems. It serves as the site where oxidation occurs, meaning electrons are released from the anode, typically moving towards the cathode. In devices like batteries, the anode is where electrons are produced during the discharge process.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Elektrode c

Aperturblendec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Aperture

Eine Öffnung, durch die Licht oder andere Strahlung in eine Kamera oder ein anderes optisches Instrument eintritt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
component c
hat Sub-Klassen
Dünnfolienblende c, Kondensorblende c, Objektivblende c, Scheibenblende c

Arbeitsabstandc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/WorkingDistance

Der Arbeitsabstand wirkt sich auf die Tiefenschärfe und die Auflösung des Bildes aus. In der Regel wird der Arbeitsabstand in Millimetern (mm) angegeben.
Der Abstand zwischen der Objektivlinse des Elektronenmikroskops und der Probenoberfläche, wenn der Elektronenstrahl auf die Probe fokussiert wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
distance c

Atmosphärische Rasterelektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AtmosphericScanningElectronMicroscopy

Atmospheric Scanning Electron Microscopy is a technique that allows samples to be imaged in their natural, hydrated state at atmospheric pressure. It enables the observation of biological and other hydrated specimens without the need for dehydration or coating.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskopie c

Atomare Auflösungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AtomicResolution

Die Fähigkeit, einzelne Atome in einem Bild oder einer Struktur aufzulösen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Auflösung c

Auflösungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Resolution

In verschiedenen Zusammenhängen bezieht sich die Auflösung auf den Grad der Detailgenauigkeit, die in einem Bild, einer Messung oder einer anderen Darstellung eines Objekts oder Phänomens erkennbar ist.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Atomare Auflösung c, Energieauflösung c, Ortsauflösung c, Zeitliche Auflösung c

Auger-Elektronen-Spektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AugerElectronSpectroscopy

Auger Electron Spectroscopy (AES) is a surface analysis technique used in the field of materials science and surface chemistry. It involves the study of the interactions between high-energy electrons and atoms on the surface of a material. The process is named after Pierre Auger, who made significant contributions to the understanding of this phenomenon. In AES, a sample's surface is bombarded with a beam of high-energy electrons, which causes inner-shell electrons to be ejected from the atoms in the sample. These vacancies are then filled by higher-energy electrons from outer shells, leading to the emission of Auger electrons. The energy of these emitted Auger electrons is characteristic of the specific elements present in the sample and their chemical states. By analyzing the energy spectrum of the emitted Auger electrons, researchers can identify the elements present on the surface of the material and determine their relative concentrations. Auger Electron Spectroscopy provides valuable information about the elemental composition and chemical bonding of the top few atomic layers of a material, making it a powerful tool for studying surface properties, thin films, and interfaces in various scientific and industrial applications.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektroskopie c

Auslesezeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ReadoutTime

The time taken to read out data from a sensor, typically measured in nanoseconds (ns).
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
time c

Belichtungszeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ExposureTime

Die Dauer, während der der Bildsensor dem Licht ausgesetzt ist, gemessen in Sekunden (s).
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
duration c

Beschleunigungsspannungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AccelerationVoltage

Die Beschleunigungsspannung bestimmt die kinetische Energie der Elektronen und beeinflusst die Auflösung und die Eindringtiefe in die Probe.
Diese Klasse beschreibt die Spannung, die an ein Elektronenmikroskop angelegt wird, um die von der Elektronenquelle (in der Regel eine Kathode) emittierten Elektronen auf die Probe zu beschleunigen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spannung c

Beugungsmusterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DiffractionPattern

Das Muster von Flecken oder Banden, das auf einem Detektor entsteht, wenn Elektronen nach der Wechselwirkung mit einer kristallinen Probe gebeugt werden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
digital entity c
hat Sub-Klassen
Elektronenbeugungsmuster c

Bildanzahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FrameCount

Die Gesamtanzahl der Bilder oder Aufnahmen in einer Sequenz.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Bildgebende Orientierungsmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/OrientationImagingMicroscopy

Orientation Imaging Microscopy is a microscopy technique used to map the crystallographic orientations of grains within a material. It is commonly applied in SEM to study the microstructural properties of polycrystalline materials.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskopie c

Bildgröße X-Achsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ImageSizeXAxis

The size of the image along the X-axis.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Bildgröße Y-Achsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ImageSizeYAxis

The size of the image along the Y-axis.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Bildnamec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ImageName

The designated name or title for an image.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
identifier c

Bildpfadc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IMAGEPATH

Der Speicherort oder Verzeichnispfad, an dem eine Bilddatei gespeichert ist.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
identifier c

Bildrahmenc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Frame

Ein einzelnes Bild oder eine Aufnahme in einer Bildsequenz.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
digital entity c

Blendengrößec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ApertureSize

Die Größe der Öffnung in einer Blende, die die Menge des durchgehenden Lichts oder der Strahlung beeinflusst.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Brennebenec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocalPlane

Die Ebene senkrecht zur optischen Achse eines Elektronenmikroskops, in der der Elektronenstrahl fokussiert wird, um ein Bild zu erzeugen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
area c

Brennpunktc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocalPoint

Der Punkt, an dem der Elektronenstrahl in einem Elektronenmikroskop fokussiert wird, um ein Bild der Probe zu erzeugen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
digital entity c

Brennweitec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocalLength

Der Abstand zwischen dem Brennpunkt (wo der Elektronenstrahl fokussiert wird) und der Linse oder Blende in einem Elektronenmikroskop.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
length c

Bühnec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Stage

Eine Plattform oder Unterstützung, die verwendet wird, um eine Probe in einem Mikroskop zu halten und zu positionieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
component c

Camera Lengthc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CameraLength

Der Abstand zwischen der Probe und der Kamera, die zur Aufnahme von Bildern in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
Example
STEM camera length
hat Super-Klassen
length c

CEOS-CEFID Filterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CEOS-CEFIDfilter

Ein CEOS-CEFID Filter ist ein spezialisierter Energiefilter, der in Elektronenmikroskopen verwendet wird, um den Bildkontrast und die Auflösung zu verbessern.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Abbildungsfilter c, Energie-Filter c

Chromatische Aberrationc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ChromaticAberration

Die Unfähigkeit eines Objektivs, alle Farben auf denselben Konvergenzpunkt zu fokussieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Aberration c

Detektorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Detector

Ein Gerät zur Erkennung und Messung von Eigenschaften wie Licht, Strahlung oder Teilchen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
processing node c
hat Sub-Klassen
Silizium-Driftdetektor c, Spektrometer c, Szintillator c

Detektor Quantenausbeutec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DetectorQuantumEfficiency

Die Effizienz, mit der ein Detektor einfallende Strahlung in Nutzsignale umwandelt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Effizienz c

Diffraktionc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Diffraction

Die Biegung von Elektronenwellen beim Durchgang durch eine kristalline Probe, was zur Bildung von Beugungsmustern führt, die Informationen über die Kristallstruktur liefern.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Physikalischer Prozess c
hat Sub-Klassen
Elektronenbeugung c, X-ray Diffraction Röntgenbeugung c

Dreidimensionale Rekonstruktionc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/3DReconstruction

Der Prozess der Erstellung einer dreidimensionalen Darstellung eines Objekts oder einer Szene aus zweidimensionalen Bildern oder Daten.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rekonstruktion c

Driftkorrekturc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DriftCorrection

Driftkorrektur bezieht sich auf Techniken in der Elektronenmikroskopie, die dazu dienen, die langsame Bewegung der Probe oder des Strahls auszugleichen und so Bildstabilität und Genauigkeit zu gewährleisten.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
analysing process c

Druckc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Pressure

Die auf eine Fläche ausgeübte Kraft in einem System, typischerweise gemessen in Pascal oder anderen Einheiten.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Dynamische Fokuskorrekturc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DynamicFocusCorrection

Eine Technik, die in der Elektronenmikroskopie eingesetzt wird, um den Fokus des Elektronenstrahls kontinuierlich in Echtzeit anzupassen und so eine optimale Bildqualität zu erhalten, insbesondere bei der Abbildung unebener oder rauer Oberflächen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
analysing process c

Dynamische Refokussierungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DynamicRefocusing

Der Prozess, bei dem der Fokus des Elektronenstrahls während der Bildgebung angepasst wird, um Änderungen der Probenhöhe oder -topografie zu kompensieren und sicherzustellen, dass die gesamte Probe im Fokus bleibt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
analysing process c

Dynamische Transmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DynamicTransmissionElectronMicroscopy

Dynamic Transmission Electron Microscopy is a technique that uses ultrafast electron pulses to capture rapid processes in materials with nanosecond to picosecond time resolution.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
transmission electron microscopy c

Dünnfolienblendec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ThinFoilAperture

Eine Blende in der Elektronenmikroskopie zur Steuerung des Elektronenstrahls, der durch eine Dünnfolienprobe geht.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Aperturblende c

Effizienzc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Efficiency

Das Verhältnis von nützlichem / nutzbarem Output zum gesamten Input in einem System.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Detektor Quantenausbeute c, Kollektoreffizienz c

Einfallender Strahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IncidentBeam

Der Elektronenstrahl, der in einem Elektronenmikroskop auf die Probenoberfläche trifft und Wechselwirkungen hervorruft, die Signale für die Abbildung oder Analyse erzeugen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Elektrodec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Electrode

An electrode is a conductor through which electric current enters or exits a substance. In the context of electrochemical systems, an electrode facilitates the transfer of electrons between a solid material and an electrolyte. Electrodes are essential components in batteries, fuel cells, electroplating, and other electrochemical processes. They play a critical role in facilitating chemical reactions and energy storage or conversion.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
processing node c
hat Sub-Klassen
Anode c, Kathode c

Elektronen-Energieverlust-Spektrometerc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronEnergyLossSpectrometer

Ein Elektronen-Energieverlust-Spektrometer ist ein Gerät, das verwendet wird, um den Energieverlust von Elektronen beim Durchgang durch eine Probe zu messen, was Informationen über die Zusammensetzung und die elektronische Struktur der Probe liefert.
Source
ChatGPT 3.5
ist äquvivalent zu
has function some Energie-Filter c
has function some Abbildungsfilter c
relates to some CEOS-CEFID Filter c
relates to some Gatan Abbildungsfilter c
hat Super-Klassen
Spektrometer c

Elektronenbeugungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronDiffraction

Das Phänomen der Beugung von Elektronenwellen beim Durchgang durch eine kristalline Probe, das Informationen über die Kristallstruktur liefert.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Diffraktion c
hat Sub-Klassen
Elektronenbeugung ausgewählter Regionen c, Konvergente Strahl-Elektronenbeugung c, Präzessionselektronenbeugung c, Rückstreuelektronenbeugung c

Elektronenbeugung ausgewählter Regionenc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SelectedAreaElectronDiffraction

Selected Area Electron Diffraction is a technique used in transmission electron microscopy (TEM) to study the crystallographic orientation of small regions within a sample. By selecting a specific area of the sample and directing an electron beam onto it, diffraction patterns are generated. These patterns offer insights into the sample's crystal structure and orientation.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Elektronenbeugung c

Elektronenbeugungsmusterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronDiffractionPattern

Das Muster von Flecken oder Ringen, das auf einem Detektor entsteht, wenn Elektronen nach der Wechselwirkung mit einer kristallinen Probe gebeugt werden, und das zur Bestimmung der Kristallstruktur verwendet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Beugungsmuster c

Elektronenenergieverlustspektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronEnergyLossSpectroscopy

Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) is a specialized analytical technique in the field of materials science and electron microscopy. It involves the measurement of the energy loss of electrons as they interact with a sample. EELS is commonly performed in transmission electron microscopy (TEM) setups. In EELS, a focused beam of high-energy electrons is directed at a sample. As these electrons pass through the material, they can lose energy through various interactions, such as inelastic scattering and excitation of inner-shell electrons. The energy loss is measured and analyzed to gain information about the sample's composition, electronic structure, and bonding characteristics. By studying the energy loss spectrum, researchers can identify the types of atoms present in the sample, determine their chemical states, and gather insights into the electronic properties of the material. EELS is particularly useful for investigating nanoscale materials, thin films, and interfaces, providing valuable information about their electronic and atomic structure. It is a powerful technique for understanding the behavior of materials at the nanometer scale and plays a significant role in advancing fields such as materials science, nanotechnology, and semiconductor research.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektroskopie c

Elektronenkanal-Kontrastbildgebungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronChannelingContrastImaging

Electron Channeling Contrast Imaging is a technique used in SEM or TEM to study crystallographic defects, such as dislocations, in crystalline materials. It utilizes the contrast resulting from the deviation of electron trajectories due to crystal defects.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskopie c

Elektronenmikrosondec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronMicroprobe

Ein Analyseinstrument zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Materialien.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscope c
hat Sub-Klassen
Elektronensonden-Mikro-Analysator c

Elektronensondec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronProbe

Der fokussierte Elektronenstrahl, der zur Abbildung oder Analyse in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Elektronensonden-Mikro-Analysatorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronProbeMicroAnalyzer

Ein Instrument zur Elementaranalyse fester Materialien durch Beschuss mit einem fokussierten Elektronenstrahl.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Elektronenmikrosonde c

Elektronenstrahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronBeam

Ein Strom von Elektronen, der von einer Elektronenquelle emittiert und in einem Elektronenmikroskop zur Abbildung oder Analyse auf die Probe beschleunigt wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Elektronentomographc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronTomograph

Ein Instrument für die tomografische Bildgebung mit Elektronen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Transmissionelektronenmikroskop c

Elektronentomographiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronTomography

Electron Tomography is a technique that involves collecting a series of transmission electron microscopy (TEM) images from different angles to reconstruct a three-dimensional image of a sample.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
transmission electron microscopy c
hat Sub-Klassen
Kryo-Elektronentomographie c

Emissionsstromc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EmissionCurrent

Der Emissionsstrom wird normalerweise in Mikroampere (μA) oder Milliampere (mA) gemessen.
Der Strom der von der Elektronenquelle emittierten Elektronen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strom c

Energiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Energy

Die Energie wird üblicherweise in Joule (J) oder Elektronenvolt (eV) gemessen.
Die Fähigkeit eines physischen Systems, Arbeit zu verrichten.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Energieverlust c, Strahlungsenergie c

Energie-Filterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyFilter

Ein Energie-Filter ist ein Gerät, das in der Elektronenmikroskopie verwendet wird, um Elektronen nach ihrer Energie zu filtern, die Bildqualität zu verbessern und spezifische Analysetechniken zu ermöglichen.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Optisches Element c
hat Sub-Klassen
CEOS-CEFID Filter c, Gatan Abbildungsfilter c

Energieauflösungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyResolution

Die Fähigkeit eines Detektors, zwischen verschiedenen Energieniveaus der einfallenden Strahlung zu unterscheiden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Auflösung c

Energiegefiltertes Transmissionselektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyFilteredTransmissionElectronMicroscope

Ein Transmissionselektronenmikroskop, das mit einem Energiefilter ausgestattet ist, um Elektronen bestimmter Energieniveaus zu selektieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Transmissionelektronenmikroskop c

Energieverlustc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyLoss

Der Energieverlust, den ein Teilchen beim Durchgang durch ein Medium erfährt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Energie c

Energy Dispersive X-ray Spectroscopyc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

energiedispersive Röntgenanalysec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnergyDispersiveXRaySpectroscopy

Energy Dispersive X-ray Spectroscopy is a technique used to analyze the elemental composition of a sample by detecting the X-rays emitted when the sample is bombarded with electrons in an electron microscope or other instrument. EDS provides information about the elements present in the sample and their relative concentrations.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Röntgen-Mikroanalyse c, Spektroskopie c

Erfassungsdatumc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AcquisitionDate

The date when the image or data was acquired.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
date c

Erfassungszeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AcquisitionTime

The time when the image or data was acquired.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
time c

Extraktionsspannungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ExtractionVoltage

Die Spannung, die an die Elektronenquelle in einem Elektronenmikroskop angelegt wird, um Elektronen aus der Kathode zu extrahieren und sie auf die Probe zu beschleunigen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spannung c

Feldbreitec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldWidth

Feldbreite bezieht sich auf den horizontalen Umfang des beobachtbaren Feldes in einem Elektronenmikroskop.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
width
hat Sub-Klassen
Horizontale Feldbreite c, Vertikale Feldbreite c

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldEmissionScanningElectronMicroscopy

Field Emission Scanning Electron Microscopy is an advanced form of SEM that uses a field emitter to produce a highly focused electron beam, enabling high-resolution imaging and surface analysis.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskopie c

Feldemissionskanonec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldEmissionGun

A Field Emission Gun is an electron gun used in electron microscopes to produce an electron beam with extremely high brightness and coherence. It relies on the phenomenon of field emission, where electrons are emitted from a sharp emitter tip under the influence of a strong electric field. FEGs are capable of producing highly focused electron beams, leading to enhanced imaging resolution and analytical capabilities.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Kanone c

Feldionenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldIonMicroscope

Ein Mikroskoptyp, der das Phänomen der Feldionisation nutzt, um Oberflächen mit atomarer Auflösung abzubilden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Ionenmikroskop c

Feldionenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FieldIonMicroscopy

Field Ion Microscopy is a specialized microscopy technique that uses a strong electric field to ionize atoms on the surface of a metal sample. These ionized atoms are then repelled from the surface and can be detected to create an image of the sample's surface topography at atomic resolution. FIM is especially powerful for imaging the arrangement of atoms on metallic surfaces.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Ionenmikroskopie c

Filamentc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Filament

Ein dünner Draht oder Faden, der Elektronen emittiert, wenn er in einer Vakuumröhre oder einem Elektronenmikroskop erhitzt wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
component c

Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometriec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TimeOfFlightSecondaryIonMassSpectrometry

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) is an advanced surface analysis technique used to determine the elemental and molecular composition of solid surfaces and thin films with high sensitivity and spatial resolution. It is employed in various scientific and industrial fields, including materials science, nanotechnology, biomedicine, and semiconductor research. TOF-SIMS builds upon the principles of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), where a focused beam of high-energy primary ions is directed at a sample's surface, causing the ejection of secondary ions. In TOF-SIMS, the flight time of these secondary ions is measured as they travel through a field-free region and enter a time-of-flight mass spectrometer. The mass spectrometer measures the time taken by the ions to reach the detector, which is directly proportional to their mass-to-charge ratio. By analyzing the flight times of the secondary ions, TOF-SIMS can determine the elemental, isotopic, and molecular composition of the sample's surface. It provides information about the presence of specific elements, chemical compounds, and molecular fragments, along with their spatial distribution. The high sensitivity of TOF-SIMS allows for the detection of trace elements and molecular species in complex samples. TOF-SIMS is valuable for characterizing surfaces at the nanoscale, profiling layered structures, investigating organic and inorganic materials, and studying biological specimens. Its ability to provide detailed chemical information while maintaining spatial resolution makes it an essential tool for understanding surface properties and material interactions in a wide range of applications.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektroskopie c

Fluoreszenzmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FluorescenceMicroscopy

Fluorescence Microscopy is an optical imaging technique used to visualize biological structures and molecules that fluoresce when illuminated with specific wavelengths of light. Fluorescent molecules absorb light energy and then emit light of a longer wavelength, allowing the visualization of specific molecules or cellular components. Fluorescence microscopy is widely used in cell biology, molecular biology, and medical research.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Lichtmikroskopie c

Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocusedIonBeamScanningElectronMicroscopy

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy is a combination of two techniques: focused ion beam (FIB) and scanning electron microscopy (SEM). FIB-SEM systems use a focused ion beam to both image and modify a sample's surface. The ion beam can be used for milling, cutting, and deposition processes, making FIB-SEM a versatile tool for materials analysis, sample preparation, and three-dimensional imaging.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Ionenmikroskopie c

Fokussierter Ionenstrahl - Rasterelektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocusedIonBeam-ScanningElectronMicroscope

Ein Zweistrahlmikroskop, das einen fokussierten Ionenstrahl mit einem Rasterelektronenmikroskop kombiniert.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Ionenmikroskop c
hat Sub-Klassen
Helium-Ionen-Mikroskop c

Fokussierter Strahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FocusedBeam

Ein Elektronenstrahl, der auf einen kleinen Punkt auf der Probenoberfläche eingeengt oder fokussiert wurde.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FourierTransformInfraredSpectroscopy

Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) is a powerful analytical technique used in various scientific disciplines to study the molecular composition and properties of materials. It is based on the interaction between infrared radiation and a sample, providing information about the vibrational modes of molecules. In FTIR spectroscopy, an infrared beam is directed through a sample, and the interaction between the radiation and the sample's molecules leads to absorption of specific infrared frequencies. Each type of molecular bond and functional group in the sample absorbs infrared radiation at characteristic frequencies, which correspond to the energies of molecular vibrations. The resulting absorption spectrum represents a fingerprint of the sample's molecular structure. The Fourier transform technique is used to convert the raw data obtained from the absorption measurements into a Fourier-transformed spectrum. This transformation improves the signal-to-noise ratio and enhances the accuracy of spectral analysis. FTIR is extensively used in a wide range of fields, including chemistry, biology, materials science, pharmaceuticals, and environmental science. It is employed for qualitative and quantitative analysis, identification of compounds, monitoring chemical reactions, and studying molecular interactions. FTIR spectroscopy provides valuable insights into molecular bonding, functional groups, and the chemical composition of substances, making it an indispensable tool in modern analytical science.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektroskopie c

Gammac zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Gamma

The nonlinear operation used to encode and decode luminance or color values in an image.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Gatan Abbildungsfilterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/GatanImageFilter

A Gatan Image Filter refers to an image filter manufactured by Gatan, Inc., a company specializing in electron microscopy and related products. Gatan's image filters are designed for electron microscopes and electron energy loss spectroscopy (EELS) applications. These filters allow researchers to control and enhance the acquisition of electron energy loss spectra while obtaining high-resolution images of the sample under investigation.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Abbildungsfilter c, Energie-Filter c

Gitterspannungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/GridVoltage

Gitterspannung bezieht sich auf die Spannung, die an das Steuergitter in einem Elektronenmikroskop angelegt wird und die den Fokus und die Intensität des Elektronenstrahls beeinflusst.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Spannung c

Glühfadenstromc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FilamentCurrent

Der Strom, der durch den Glühfaden der Elektronenkanone in einem Elektronenmikroskop fließt und den Glühfaden erhitzt, um Elektronen zu emittieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strom c

Halterc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Holder

Ein Gerät, das verwendet wird, um eine Probe oder ein Bauteil zu stützen oder zu sichern.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
component c

Helium-Ionen-Mikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HeliumIonMicroscope

Eine Art Mikroskop, das Helium-Ionen verwendet, um Proben mit hoher Auflösung abzubilden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Fokussierter Ionenstrahl - Rasterelektronenmikroskop c

Helium-Ionen-Mikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HeliumIonMicroscopy

Helium Ion Microscopy is a microscopy technique that uses a beam of helium ions instead of electrons to interact with a sample's surface. The smaller mass of helium ions compared to electrons allows for higher resolution imaging and reduced sample damage. HIM provides high-resolution images and is often used for imaging delicate or sensitive samples.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Ionenmikroskopie c

Hellfeld-Transmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BrightFieldTransmissionElectronMicroscopy

Bright Field TEM is an imaging mode in transmission electron microscopy where regions of the sample that scatter electrons less appear brighter in the resulting image.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
transmission electron microscopy c

Helligkeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Brightness

Der Grad der Lichtintensität in einem Bild.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HighResolutionTransmissionElectronMicroscopy

High Resolution TEM is a technique that provides exceptionally high-resolution images of a sample's internal structure, revealing atomic-level details.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
transmission electron microscopy c

Hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HighResolutionTransmissionElectronMicroscope

Ein Transmissionselektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder liefert.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Transmissionelektronenmikroskop c

Hochwinkel-Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskop mit annularem Winkelc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HighAngleAnnularDarkFieldScanningTransmissionElectronMicroscope

Eine Art Rastertransmissionselektronenmikroskop, das gestreute Elektronen in hohen Winkeln erkennt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastertransmissionselektronenmikroskop c

Horizontale Feldbreitec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/HorizontalFieldWidth

Horizontale Feldbreite bezieht sich auf den horizontalen Umfang des beobachtbaren Feldes in einem Elektronenmikroskop.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Feldbreite c

Inelastische Streuungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/InelasticScattering

Inelastic scattering is a scattering process that involves the transfer of energy and momentum between the incident particle (e.g., photon, electron) and the target particle. During inelastic scattering, the energy of the scattered particle changes, and the interaction may result in various outcomes, such as excitation, emission, or other energy transfers that alter the internal state of the target particle.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Physikalischer Prozess c

Ionenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IonMicroscope

Ein Mikroskop, das mit Hilfe von Ionen Bilder von Proben erzeugt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
micropscope c
hat Sub-Klassen
Feldionenmikroskop c, Fokussierter Ionenstrahl - Rasterelektronenmikroskop c

Ionenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IonMicroscopy

Ion Microscopy refers to a group of microscopy techniques that use focused ion beams to image and analyze samples. These techniques utilize ions, such as protons or heavy ions, instead of electrons or photons to interact with the sample, providing valuable information about its composition and structure.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
microscopy process c
hat Sub-Klassen
Feldionenmikroskopie c, Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopie c, Helium-Ionen-Mikroskopie c

Ionenstrahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IonBeam

Ein Ionenstrom, der zum Mahlen oder zur Analyse verwendet wird, insbesondere bei Ionenmikroskopietechniken zur Bildgebung.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Kammerc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Chamber

Kammer bezieht sich auf den abgeschlossenen Raum in einem Elektronenmikroskop, in dem die Probe platziert wird und Vakuumbedingungen aufrechterhalten werden.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
object c

Kammervakuumc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ChamberVacuum

Das Vakuumniveau im Inneren der Kammer eines Elektronenmikroskops oder eines anderen Geräts.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Vakuum c

Kanalc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Channel

Ein Pfad, entlang dem Signale wie Daten oder elektrische Impulse übertragen werden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
object c

Kanonec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Gun

In the context of electron microscopy and particle acceleration, a "gun" typically refers to an electron or particle source that generates and emits the particles. In electron microscopy, an electron gun is used to generate a beam of electrons for imaging or analysis. In particle accelerators, a particle gun generates and launches particles at high speeds for various experimental purposes.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
ist äquvivalent zu
component some Quelle c
hat Super-Klassen
processing node c
hat Sub-Klassen
Feldemissionskanone c, Schottky-Emissionsquelle c, Thermionische Emissionsquelle c

Kanonen-Vakuumc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/GunVacuum

Das Vakuumniveau im Inneren der Elektronenkanone eines Elektronenmikroskops.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Vakuum c

Kathodec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Cathode

The cathode is the negatively charged electrode in an electrochemical cell or other electrical systems. It is the site where reduction occurs, leading to the acceptance of electrons from the external circuit. In batteries, for instance, the cathode is where electrons are consumed during the discharge process.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Elektrode c

Kohärenter Strahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CoherentBeam

Ein Elektronenstrahl, bei dem die einzelnen Elektronen eine konstante Phasenbeziehung zueinander haben, was bei der Wechselwirkung mit einer Probe zu Interferenzmustern führt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Kollektorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Collector

Ein Gerät, das geladene Teilchen oder Strahlung in einem Mikroskop oder einem anderen Instrument sammelt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
processing node c

Kollektoreffizienzc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CollectionEfficiency

Die Fähigkeit eines Detektors oder Systems, relevante Signale oder Daten zu erfassen und aufzuzeichnen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Effizienz c

Kondensorblendec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CondensorAperture

Eine Blende, die die Lichtmenge steuert, die in das Kondensorlinsensystem eines Mikroskops eintritt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Aperturblende c

Kondensorlinsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CondensorLense

A condenser lens is an optical element used in microscopy and other optical systems to focus and control the illumination on the sample being observed. It is positioned below the light source and directs light rays onto the specimen, making the illumination uniform and optimizing the quality of the sample's image. The condenser lens helps enhance contrast, resolution, and overall image quality by ensuring that a consistent and concentrated light beam illuminates the specimen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Linse c

Konfokale Laser-Scanning-Mikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ConfocalLaserScanningMicroscopy

Confocal Laser Scanning Microscopy (CLSM) is an optical imaging technique that enhances resolution and eliminates out-of-focus blur by using a spatial pinhole and laser illumination. A focused laser beam is scanned across the sample's surface or depth, and only the light emitted from the focal plane (or a defined section) passes through the pinhole to form an image. CLSM provides high-resolution three-dimensional images, making it popular for biological imaging and studying fluorescently labeled samples.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Lichtmikroskopie c

Kontrastc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Contrast

Der Unterschied in der Leuchtdichte oder Farbe, der Objekte in einem Bild unterscheidbar macht.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Konvergente Strahl-Elektronenbeugungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ConvergentBeamElectronDiffraction

Konvergente Strahl-Elektronenbeugung ist eine Technik in der Elektronenmikroskopie, bei der ein konvergenter Elektronenstrahl verwendet wird, um Beugungsmuster zu erzeugen, die eine präzise Analyse von Kristallstrukturen ermöglichen.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Elektronenbeugung c

Konvergenzwinkelc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ConvergenceAngle

Der Konvergenzwinkel beeinflusst die Schärfentiefe und die Auflösung des Bildes.
Der Winkel, in dem der Elektronenstrahl in einem Elektronenmikroskop auf die Probe trifft.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Winkel c

Kryo-Elektronentomographiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CryoElectronTomography

Cryo Electron Tomography is a form of electron tomography that is performed at cryogenic temperatures. It is used to study the three-dimensional structure of frozen-hydrated samples.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Elektronentomographie c

Kryo-Rasterelektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Cryo-ScanningElectronMicroscope

Ein Kryo-Rasterelektronenmikroskop wird in der Regel zur Abbildung biologischer Proben verwendet.
A type of electron microscope that operates under cryogenic temperatures.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskop c

Kryo-Transmissionselektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/CryoTransmissionElectronMicroscope

Ein Transmissionselektronenmikroskop, das bei kryogenen Temperaturen arbeitet.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Transmissionelektronenmikroskop c

Lichtmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/LightMicroscope

Ein optisches Mikroskop, das sichtbares Licht verwendet, um Proben zu beleuchten und zu vergrößern.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Optisches Mikroskop c
hat Sub-Klassen
Polarisiertes Lichtmikroskop c

Lichtmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/LightMicroscopy

Die Verwendung von sichtbarem Licht zur Beobachtung und Untersuchung kleiner Objekte oder Strukturen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
optical microscopy c
hat Sub-Klassen
Fluoreszenzmikroskopie c, Konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie c, Polarisationslichtmikroskopie c

Linsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Lense

Ein Stück optisches Glas oder anderes transparentes Material, das zum Fokussieren oder Vergrößern von Licht in optischen Geräten verwendet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Optisches Element c
hat Sub-Klassen
Kondensorlinse c, Objektivlinse c, Projektorlinse c, Zwischenlinse c

Maximale Belichtungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/MaximumExposure

The maximum duration for which the imaging sensor can be exposed to light, measured in seconds.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Mechanisches Polierenc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/MechanicalPolishing

Mechanical polishing is a material preparation technique used to enhance the surface quality and finish of a sample by removing thin layers of material through abrasion. It involves using abrasive materials, such as polishing cloths, diamond suspensions, or abrasive pastes, along with a polishing machine or device. The process typically includes several steps, each using progressively finer abrasives to achieve a smooth and mirror-like surface. During mechanical polishing, the sample is pressed against the rotating polishing medium with controlled pressure. The abrasive particles embedded in the medium gradually remove surface irregularities, scratches, and imperfections, resulting in improved flatness, clarity, and reflectivity. The process can be adjusted to target specific levels of surface roughness and precision. Mechanical polishing is commonly used in various scientific and industrial applications, such as metallography, materials science, electronics, and optics. It is an essential step before further analyses like microscopy, spectroscopy, or surface profiling, as it provides a pristine surface for accurate characterization and observation of material properties.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
manufacturing process c

Monochromatischer Strahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/MonochromaticBeam

Ein Elektronenstrahl, der aus Elektronen mit einem engen Energiebereich besteht, der in der Regel durch Elektronenenergiefilter oder Monochromatoren erreicht wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Monochromatorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Monochromator

Ein optisches Gerät, das einen engen Wellenlängenbereich von Licht überträgt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Optisches Element c

Neigungskorrekturc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TiltCorrection

Eine Korrektur, die bei Bildern von gekippten Proben in der Elektronenmikroskopie angewendet wird, um durch den Kippwinkel verursachte Verzerrungen zu kompensieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
analysing process c

Neigungswinkelc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TiltAngle

Der Winkel, um den ein Objekt von seiner vertikalen oder horizontalen Position geneigt ist.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Winkel c

Oberflächenstrukturc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SurfaceStructure

Die Anordnung und die Merkmale der äußersten Schicht eines Materials.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
object c

Objektivblendec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ObjectiveAperture

Eine Blende im Objektivlinsensystem eines Mikroskops.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Aperturblende c

Objektivlinsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ObjectiveLense

Eine Linse in einem Mikroskop oder ähnlichen optischen Gerät, die am nächsten zur Probe liegt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Linse c

Optisches Elementc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/OpticalElement

Ein optisches Element ist eine Komponente eines optischen Systems, das die Ausbreitung von Licht beeinflusst, wie Linsen, Spiegel oder Prismen.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
processing node c
hat Sub-Klassen
Abbildungsfilter c, Energie-Filter c, Linse c, Monochromator c, Polschuh c

Optisches Mikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/OpticalMicroscope

Ein Mikroskop, das sichtbares Licht und Linsen zur Vergrößerung von Proben verwendet.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
micropscope c
hat Sub-Klassen
Lichtmikroskop c

Ortsauflösungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SpatialResolution

Die Fähigkeit eines Bildgebungssystems, feine Details in einem Objekt anzuzeigen. Sie bezieht sich auf das kleinste wahrnehmbare Detail in einem Bild.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Auflösung c

Palettec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Palette

In computer graphics, a palette is the set of available colors from which an image can be made. In some systems, the palette is fixed by the hardware design, and in others it is dynamic, typically implemented via a color lookup table (CLUT), a correspondence table in which selected colors from a certain color space's color reproduction range are assigned an index, by which they can be referenced.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
Example
Typical colorscales may be, e.g., greyscale, RGB, or CMYK.
hat Super-Klassen
value object c

Physikalischer Prozessc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PhysicalProcess

A physical process refers to a sequence of events or interactions that occur in the physical world and can be described and analyzed based on the principles of physics. These processes involve the transformation of energy, matter, or both, and they often follow established laws and theories of physics. In particular, a physical process may just occur due to natural circumstances and does not necessarily have to be induced by human activities or interactions.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
process c
hat Sub-Klassen
Diffraktion c, Inelastische Streuung c

Pixel Sizec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PixelSize

Die Größe der einzelnen Pixel in einem digitalen Bild oder einer Anzeige.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Polarisationslichtmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PolarizedLightMicroscopy

Polarized Light Microscopy is a technique that uses polarized light to enhance the contrast and reveal structural information in transparent samples. Light waves vibrate in specific directions, and by using polarizers to control the orientation of light waves, polarized light microscopy can highlight birefringent materials, anisotropic structures, and stress patterns within samples. This technique is valuable for studying crystalline structures, fibers, and anisotropic materials.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Lichtmikroskopie c

Polarisiertes Lichtmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PolarizedLightMicroscope

Ein Mikroskop, das polarisiertes Licht zur Beobachtung und Analyse von Proben verwendet.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Lichtmikroskop c

Polschuhc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PolePiece

Eine Komponente der Elektronensäule in einem Elektronenmikroskop, die den Elektronenstrahl fokussiert und auf die Probe lenkt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Optisches Element c

Primärstrahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PrimaryBeam

Der Hauptelektronenstrahl, der von der Elektronenquelle ausgesandt und auf die Probe in einem Elektronenmikroskop gerichtet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strahl c

Projektorlinsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ProjectorLense

Eine Linse, die verwendet wird, um das Bild von der Zwischenlinse auf einen Bildschirm oder Detektor zu projizieren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Linse c

Präzessionselektronenbeugungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/PrecessionElectronDiffraction

Präzessionselektronenbeugung ist eine Technik in der Elektronenmikroskopie, bei der der Elektronenstrahl in einer Präzessionsbewegung geneigt wird, wodurch die Qualität der Beugungsmuster verbessert und dynamische Effekte reduziert werden.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Elektronenbeugung c

Quellec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Source

Die Elektronenquelle, z. B. ein Wolframfaden oder eine Feldemissionskathode, die in einem Elektronenmikroskop Elektronen emittiert.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
processing node c

Rahmenscanzeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FrameTime

Die Zeit, die benötigt wird, um ein Einzelbild in einem Elektronenmikroskop aufzunehmen und anzuzeigen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
duration c

Rasterelektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningElectronMicroscope

Ein Mikroskop, das Bilder einer Probe erzeugt, indem es diese mit einem fokussierten Elektronenstrahl abtastet.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscope c
hat Sub-Klassen
Kryo-Rasterelektronenmikroskop c, Umwelt-Rasterelektronenmikroskop c

Rasterelektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningElectronMicroscopy

Scanning Electron Microscopy is a microscopy technique that uses a focused beam of electrons to scan the surface of a sample. The interaction of the electrons with the sample generates signals that provide information about the sample's topography, morphology, and composition.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscopy c
hat Sub-Klassen
Atmosphärische Rasterelektronenmikroskopie c, Bildgebende Orientierungsmikroskopie c, Elektronenkanal-Kontrastbildgebung c, Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie c, Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie c

Rastersondenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningProbeMicroscope

Ein Mikroskoptyp, der Oberflächen abbildet, indem er eine Sonde über die Probe führt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscope c
hat Sub-Klassen
Rastertunnelmikroskop c

Rastersondenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningProbeMicroscopy

Scanning Probe Microscopy encompasses various techniques, such as Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Tunneling Microscopy (STM), that use a sharp probe to scan a sample's surface. These techniques provide high-resolution images and information about surface properties on the nanometer scale.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscopy c
hat Sub-Klassen
Rastertunnelmikroskopie c

Rastertransmissionselektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTransmissionElectronMicroscope

Eine Art von Transmissionselektronenmikroskop, bei dem ein fokussierter Elektronenstrahl über die Probe gescannt wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Transmissionelektronenmikroskop c
hat Sub-Klassen
Hochwinkel-Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskop mit annularem Winkel c

Rastertransmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTransmissionElectronMicroscopy

Scanning Transmission Electron Microscopy is a technique that combines the principles of scanning and transmission electron microscopy. It allows imaging and spectroscopy with high spatial resolution.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
transmission electron microscopy c
hat Sub-Klassen
4D-Rastertransmissionselektronenmikroskopie c, Rastertransmissionselektronenmikroskopie Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie c, Ringförmige Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopie c, Ringförmige Hellfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopie c

Rastertransmissionselektronenmikroskopie Elektronen-Energieverlust-Spektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTransmissionElectronMicroscopy-ElectronEnergyLossSpectroscopy

STEM-EELS combines STEM imaging with electron energy loss spectroscopy to provide information about the elemental composition and electronic structure of a sample at high spatial resolution.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastertransmissionselektronenmikroskopie c

Rastertunnelmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTunnelingMicroscope

Ein Mikroskop, das Quanten-Tunneling nutzt, um Oberflächen auf atomarer Ebene abzubilden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastersondenmikroskop c

Rastertunnelmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ScanningTunnelingMicroscopy

Scanning Tunneling Microscopy is a technique that uses a conducting probe to measure the tunneling current between the probe and the sample's surface. It provides atomic-scale images of surfaces and is often used to study conductive materials.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastersondenmikroskopie c

Rekonstruktionc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Reconstruction

Der Prozess der Erstellung eines dreidimensionalen Bildes oder Modells aus zweidimensionalen Daten.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
analysing process c
hat Sub-Klassen
Dreidimensionale Rekonstruktion c, Tomographische Rekonstruktion c

Ringförmige Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AnnularDarkFieldScanningTransmissionElectronMicroscopy

ADF STEM is a technique that utilizes a specific arrangement of detectors to create contrast in STEM images based on the scattered electrons.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastertransmissionselektronenmikroskopie c

Ringförmige Hellfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/AnnularBrightFieldScanningTransmissionElectronMicroscopy

ABF STEM is a technique that utilizes a specific arrangement of detectors to enhance contrast in STEM images, particularly for heavy elements.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rastertransmissionselektronenmikroskopie c

Rotationswinkelc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/RotationAngle

Der Winkel, um den ein Objekt um eine bestimmte Achse rotiert wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Winkel c

Röntgen-Energie-dispersiver Spektrometerc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XrayEnergyDispersiveSpectrometer

Ein Röntgen-Energie-dispersiver Spektrometer ist ein Gerät, das in Elektronenmikroskopen verwendet wird, um die Elementzusammensetzung von Proben durch Detektion der vom Probenmaterial emittierten Röntgenstrahlen zu analysieren.
Source
ChatGPT 3.5
ist äquvivalent zu
has function some Energie-Filter c
has function some Abbildungsfilter c
hat Super-Klassen
Spektrometer c

Röntgen-Mappingc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayMapping

X-ray mapping is a process that involves generating spatially resolved images of the distribution of specific elements within a sample. By collecting X-ray signals emitted or scattered from a sample at different points, an elemental map can be created, showing the varying concentrations of elements across the sample's surface.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Röntgenanalyse c
hat Sub-Klassen
Röntgenabsorptionsspektroskopie c, Röntgenfluoreszenz c, Röntgenphotoelektronenspektroskopie c

Röntgen-Mikroanalysec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayMicroanalysis

X-ray Microanalysis is a technique that combines microscopy and X-ray analysis to study the elemental composition of small regions within a sample. It involves focusing an electron or X-ray beam on a specific area of the sample and measuring the X-rays emitted from that area to determine the elemental composition.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Röntgenanalyse c
hat Sub-Klassen
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy energiedispersive Röntgenanalyse c

Röntgenabsorptionsspektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayAbsorptionSpectroscopy

X-ray Absorption Spectroscopy is a technique used to study the electronic and local structural properties of materials by analyzing the absorption of X-rays. It involves measuring how X-rays are absorbed by a sample at various energies, providing insights into the electronic states and chemical environments of specific elements.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Röntgen-Mapping c

Röntgenabsorptionsspektroskopie im Nahbereichc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayAbsorptionNearEdgeSpectroscopy

X-ray Absorption Near Edge Spectroscopy (XANES) is a specialized technique used in the field of materials science and spectroscopy to study the electronic and structural properties of materials. It focuses on the X-ray absorption spectra of atoms within a sample, particularly the region just above the absorption edge of an element's X-ray absorption spectrum. In XANES, a sample is irradiated with X-rays, typically generated by a synchrotron radiation source. These X-rays are tuned to specific energy levels corresponding to the absorption edges of the elements of interest in the sample. As the X-rays are absorbed by the sample, the energy levels of the atoms are altered, leading to various transitions in their electron configurations. The resulting X-ray absorption spectrum is measured, specifically targeting the energies just above the absorption edge. XANES provides information about the electronic structure of the atoms within the sample, including the oxidation state, chemical bonding, and local environment of the absorbing element. The fine details of the XANES spectrum offer insights into the atomic and molecular interactions, as well as the coordination and symmetry of atoms in different chemical environments. This technique is widely used in various scientific fields, including chemistry, solid-state physics, and materials science. XANES helps researchers understand the properties and behavior of materials at the atomic level, making it an invaluable tool for investigating the characteristics of complex materials, catalysts, minerals, and biomolecules.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektroskopie c

Röntgenanalysec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayAnalysis

X-ray analysis is a technique used to investigate the composition and structure of materials by exposing them to X-rays. When X-rays interact with a material, they can be absorbed, scattered, or diffracted in ways that provide information about the material's internal arrangement of atoms and its elemental composition.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
analysing process c
hat Sub-Klassen
Röntgen-Mapping c, Röntgen-Mikroanalyse c

Röntgenemissionsspektrometer mit weicher Röntgenstrahlungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SoftXRayEmissionSpectrometer

Ein Instrument zur Analyse der Emission weicher Röntgenstrahlen aus einer Probe.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektrometer c

Röntgenfluoreszenzc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayFluorescence

X-ray Fluorescence is a method used to determine the elemental composition of a sample by analyzing the X-rays emitted when the sample is exposed to high-energy X-rays. The X-rays emitted are characteristic of the elements present, allowing for quantitative analysis of the sample's elemental composition.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Röntgen-Mapping c

Röntgenphotoelektronenspektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayPhotoelectronSpectroscopy

X-ray Photoelectron Spectroscopy, also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is a technique used to study the surface chemistry of materials. XPS involves bombarding a sample's surface with X-rays to emit photoelectrons, which are then analyzed to determine the elemental composition and chemical states of the elements on the surface.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Röntgen-Mapping c

Rücklaufzeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/FlybackTime

Die Zeit, die der Elektronenstrahl benötigt, um nach dem Abtasten einer Zeile oder eines Bildes in einem Elektronenmikroskop in seine Ausgangsposition zurückzukehren.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
duration c

Rückstreuelektronenbeugungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ElectronBackscatterDiffraction

Electron Backscatter Diffraction is a microscopy technique used to analyze the crystallographic orientation and microstructure of materials. It involves directing an electron beam onto a sample's surface and measuring the backscattered electrons. By analyzing the diffraction patterns of these electrons, researchers can determine the crystallographic orientation of the material's grains.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Elektronenbeugung c

Scheibe der geringsten Konfusionc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DiskOfLeastConfusion

Der Bereich in der Bildebene eines Elektronenmikroskops, in dem der Elektronenstrahl auf die kleinste Punktgröße fokussiert wird, wodurch die durch sphärische Aberration verursachte Unschärfe minimiert wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
cross section area c

Scheibenblendec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DiscAperture

Eine kreisförmige Blende zur Begrenzung der Strahlgröße in einem optischen Instrument.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Aperturblende c

Schottky-Emissionsquellec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SchottkyEmissionGun

Eine Schottky-Emissionsquelle ist ein Gerät in Elektronenmikroskopen, das durch feldinduzierte thermionische Emission Elektronen erzeugt und einen Schottky-Emitter verwendet.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Kanone c

Schwellec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Threshold

Ein Wert oder eine Grenze, bei der ein bestimmter Effekt oder ein Ergebnis eintritt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Schärfec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Sharpness

Die Qualität, klar und gut definiert in einem Bild oder einer Probe zu sein.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Sekundärionen-Massenspektrometriec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SecondaryIonMassSpectrometry

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is an advanced analytical technique used to determine the elemental and isotopic composition of solid surfaces and thin films at a very high sensitivity and spatial resolution. It is widely employed in various scientific and industrial applications, including materials science, semiconductor research, and surface analysis. In SIMS, a focused beam of high-energy primary ions is directed at a sample's surface. The impact of these primary ions causes the ejection of secondary ions from the sample's surface. These secondary ions are then extracted, mass-separated, and detected using a mass spectrometer. The mass spectrometer measures the mass-to-charge ratios of the secondary ions, providing information about the elemental and isotopic composition of the sample. The sensitivity and spatial resolution of SIMS allow researchers to analyze very small areas, often down to the micrometer or nanometer scale. This makes SIMS particularly valuable for investigating surface composition, depth profiling of layered structures, and detecting trace elements in complex materials. The technique is non-destructive in its elemental analysis, which is beneficial for studying delicate samples or preserving valuable materials. SIMS has applications in diverse fields, including materials characterization, semiconductor device analysis, biological and medical research, and geological studies. It provides essential information about the chemical composition, structure, and distribution of elements in complex samples, contributing to advancements in materials science and various technological developments.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Spektroskopie c

Sensorgrößec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ProbeSize

Die Größe der Sonde oder des Strahls, die bei Mikroskopie- oder Spektroskopieverfahren verwendet werden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Silizium-Driftdetektorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SiliconDriftDetector

Eine Art Röntgendetektor, der Hochgeschwindigkeitsleistung und hohe Energieauflösung bietet.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Detektor c

Sondenstromc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ProbeCurrent

The current in the probe is typically measured in nanoamperes (nA).
Der Strom der Elektronen im fokussierten Elektronenstrahl, der zur Abbildung oder Analyse in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strom c

Spannungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Voltage

Die Spannung wird in Volt (V) gemessen und in Kilovolt (kV) repräsentiert und stellt die potenzielle Energiedifferenz zwischen zwei Punkten in einem Stromkreis dar. Je höher die Spannung ist, desto größer ist die Kraft, die die elektrischen Ladungen antreibt, und desto höher ist folglich auch das Potenzial für einen Stromfluss.
Die Spannung, auch elektrische Potentialdifferenz, ist ein Maß für die elektrische potentielle Energie pro Ladungseinheit in einem elektrischen Stromkreis. Sie ist die Kraft, die den elektrischen Strom durch einen Leiter treibt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Beschleunigungsspannung c, Extraktionsspannung c, Gitterspannung c

Spektrometerc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Spectrometer

Ein Instrument zur Messung der Eigenschaften von Licht in einem bestimmten Teil des elektromagnetischen Spektrums.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Detektor c
hat Sub-Klassen
Elektronen-Energieverlust-Spektrometer c, Röntgen-Energie-dispersiver Spektrometer c, Röntgenemissionsspektrometer mit weicher Röntgenstrahlung c

Spektroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Spectroscopy

Spectroscopy is a scientific technique used to study and analyze the interaction of matter with electromagnetic radiation, such as light. It involves measuring the way in which different substances absorb, emit, or scatter light at various wavelengths or frequencies. By examining the spectrum of light emitted, absorbed, or transmitted by a sample, scientists can gain insights into its chemical composition, molecular structure, and physical properties. Spectroscopy is widely utilized in various fields, including chemistry, physics, astronomy, and biochemistry, to investigate the characteristics and behavior of materials at the atomic and molecular level.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
analysing process c
hat Sub-Klassen
Auger-Elektronen-Spektroskopie c, Elektronenenergieverlustspektroskopie c, Energy Dispersive X-ray Spectroscopy energiedispersive Röntgenanalyse c, Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie c, Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie c, Röntgenabsorptionsspektroskopie im Nahbereich c, Sekundärionen-Massenspektrometrie c

Sphärische Aberrationc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SphericalAberration

Eine Art von optischer Aberration, die durch Abweichungen von der idealen sphärischen Form in Linsen oder Spiegeln verursacht wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Aberration c

Spotc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Spot

Strahlfleck bezieht sich auf den fokussierten Punkt des Elektronenstrahls in einem Elektronenmikroskop, an dem der Strahl mit der Probe interagiert.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
object c

Spotgrößec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SpotSize

Strahlfleckgröße bezieht sich auf den Durchmesser des Elektronenstrahls an dem Punkt, an dem er auf die Probe fokussiert wird.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
value object c

Stigmation Xc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/StigmationX

Die Einstellung des Astigmatismus in der X-Achse eines Elektronenstrahls in der Mikroskopie.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Stigmation Yc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/StigmationY

Die Einstellung des Astigmatismus in der Y-Achse eines Elektronenstrahls in der Mikroskopie.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Stigmatorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Stigmator

Ein Gerät in der Elektronenmikroskopie zur Korrektur des Astigmatismus im Elektronenstrahl.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
processing node c

Strahlc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Beam

Ein Strom von Elektronen, der von der Elektronenquelle emittiert und auf die Probe in einem Elektronenmikroskop gerichtet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
object c
hat Sub-Klassen
Einfallender Strahl c, Elektronensonde c, Elektronenstrahl c, Fokussierter Strahl c, Ionenstrahl c, Kohärenter Strahl c, Monochromatischer Strahl c, Primärstrahl c

Strahlengangc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamPath

Die Flugbahn des Elektronenstrahls auf seinem Weg durch das Elektronenmikroskop von der Elektronenquelle zur Probe und dann zum Detektor.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
object c

Strahlneigung Xc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamTiltX

Strahlneigung X bezieht sich auf die Neigung des Elektronenstrahls in Richtung der X-Achse innerhalb eines Elektronenmikroskops.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
value object c

Strahlneigung Yc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamTiltY

Strahlneigung Y bezieht sich auf die Neigung des Elektronenstrahls in Richtung der Y-Achse innerhalb eines Elektronenmikroskops.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
value object c

Strahlstromc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamCurrent

Die Intensität des Elektronenstrahls, gemessen als Anzahl der Elektronen, die eine bestimmte Fläche pro Zeiteinheit durchdringen.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Strom c

Strahlungsenergiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamEnergy

Die Energie eines Teilchen- oder Photonenstrahls, der in verschiedenen Analyseverfahren verwendet wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Energie c

Strahlversatz Xc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamOffsetX

Der Versatz des Elektronenstrahls entlang der X-Achse in der Elektronenmikroskopie.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Strahlversatz Yc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamOffsetY

Der Versatz des Elektronenstrahls entlang der Y-Achse in der Elektronenmikroskopie.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Strahlverschiebung Xc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamShiftX

Die Verschiebung des Elektronenstrahls entlang der X-Achse in der Elektronenmikroskopie.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Strahlverschiebung Yc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/BeamShiftY

Die Verschiebung des Elektronenstrahls entlang der Y-Achse in der Elektronenmikroskopie.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Stromc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Current

Der Strom wird normalerweise in Ampere (A) gemessen.
Der Fluss der elektrischen Ladung.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Emissionsstrom c, Glühfadenstrom c, Sondenstrom c, Strahlstrom c

Systemvakuumc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/SystemVacuum

Das allgemeine Vakuumniveau im gesamten System eines Elektronenmikroskops.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Vakuum c

Szintillatorc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Scintillator

Ein Material, das Licht aussendet, wenn es ionisierende Strahlung absorbiert.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Detektor c

Tatsächliche Vergrößerungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ActualMagnification

Tatsächliche Vergrößerung bezieht sich auf den tatsächlichen Vergrößerungsgrad, der in einem Elektronenmikroskop erreicht wird und sich von der angegebenen Vergrößerung unterscheiden kann.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Vergrößerung c

Thermionische Emissionsquellec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/ThermionicEmissionGun

Eine thermionische Emissionsquelle ist ein Gerät in Elektronenmikroskopen, das durch Erhitzen eines Filaments Elektronen durch thermionische Emission erzeugt.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Kanone c

Tomographische Rekonstruktionc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TomographicReconstruction

Der Prozess der Rekonstruktion einer dreidimensionalen Struktur aus einer Reihe von zweidimensionalen Bildern, die aus verschiedenen Winkeln aufgenommen wurden.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rekonstruktion c

transmission electron microscopyc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TransmissionElectronMicroscopy

Transmission Electron Microscopy is a microscopy technique that involves transmitting a beam of electrons through a thin sample to create high-resolution images. It is used to study the internal structure and morphology of materials at the nanometer scale.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscopy c
hat Sub-Klassen
Dynamische Transmissionselektronenmikroskopie c, Elektronentomographie c, Hellfeld-Transmissionselektronenmikroskopie c, Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie c, Rastertransmissionselektronenmikroskopie c, Umgebungs-Transmissionselektronenmikroskopie c

Transmissionelektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TransmissionElectronMicroscope

Ein Mikroskop, das einen Elektronenstrahl durch eine Probe sendet und ein Bild erzeugt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
electron microscope c
hat Sub-Klassen
Elektronentomograph c, Energiegefiltertes Transmissionselektronenmikroskop c, Hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop c, Kryo-Transmissionselektronenmikroskop c, Rastertransmissionselektronenmikroskop c, Transmissionselektronen-Aberrations-korrigiertes Mikroskop c

Transmissionselektronen-Aberrations-korrigiertes Mikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TransmissionElectronAberrationCorrectedMicroscope

Ein Transmissions-Elektronenmikroskop mit Aberrationskorrektur zur Erzielung hochauflösender Bilder.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Transmissionelektronenmikroskop c

Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnvironmentalScanningElectronMicroscopy

Environmental Scanning Electron Microscopy is a technique that allows imaging of samples in a gaseous environment. It is particularly useful for observing hydrated or non-conductive samples without the need for extensive sample preparation.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskopie c

Umgebungs-Transmissionselektronenmikroskopiec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnvironmentalTransmissionElectronMicroscopy

Environmental Transmission Electron Microscopy allows imaging and analysis of materials in controlled gaseous environments, simulating real-world conditions.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
transmission electron microscopy c

Umwelt-Rasterelektronenmikroskopc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/EnvironmentalScanningElectronMicroscope

Eine Art Elektronenmikroskop, das nicht leitende Proben in ihrem natürlichen Zustand abbilden kann.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Rasterelektronenmikroskop c

Vakuumc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Vacuum

Ein Raum, der völlig materiefrei ist oder in dem der Druck deutlich unter dem atmosphärischen Druck liegt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
object c
hat Sub-Klassen
Kammervakuum c, Kanonen-Vakuum c, Systemvakuum c

Vakuumpumpec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/VacuumPump

Eine Vakuumpumpe ist ein Gerät, das in Elektronenmikroskopen verwendet wird, um Luft aus der Kammer zu evakuieren und die notwendigen Vakuumbedingungen für den Betrieb des Elektronenstrahls zu schaffen.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
processing node c

Vergrößerungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Magnification

Das Verhältnis zwischen der Größe eines von einem optischen System erzeugten Bildes und der Größe des Objekts.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Angegebene Vergrößerung c, Tatsächliche Vergrößerung c

Vertikale Feldbreitec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/VerticalFieldWidth

Vertikale Feldbreite bezieht sich auf den vertikalen Umfang des beobachtbaren Feldes in einem Elektronenmikroskop.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Feldbreite c

Verweilzeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/DwellTime

Die Zeitspanne, in der der Elektronenstrahl während der Bildgebung oder Analyse auf einen bestimmten Punkt oder einen interessierenden Bereich der Probe fokussiert wird.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
duration c

Volumenc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Volume

Die Menge an Raum, die ein Stoff oder Gegenstand einnimmt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Überlagerungsvolumen c

Vorspannungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Bias

Eine Spannung oder ein anderer Wert, der den Betrieb eines elektronischen Bauteils beeinflusst.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
value object c

Wartezeitc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/WaitTime

Die Wartezeit wird häufig genutzt, um die Probe zu stabilisieren oder um die Beschädigung der Probe zu minimieren.
Das Zeitintervall zwischen aufeinander folgenden Messungen oder Operationen in einem Elektronenmikroskop.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
duration c

Winkelc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/Angle

In der Geometrie und Trigonometrie ist ein Winkel ein Maß für eine Drehung, das erforderlich ist, um eine Linie oder Ebene mit einer anderen zur Deckung zu bringen. Ein Winkel wird durch zwei Strahlen gebildet, die einen gemeinsamen Endpunkt haben, der als Scheitelpunkt des Winkels bezeichnet wird. Die Strahlen werden als die Seiten des Winkels bezeichnet. Hinweis: Das Konzept des Winkels ist in der Geometrie von grundlegender Bedeutung und wird häufig verwendet, um die relative Ausrichtung von Linien, Ebenen oder Flächen zu beschreiben. Winkel werden in der Regel in Grad (°) oder Bogenmaß (rad) gemessen.
hat Super-Klassen
value object c
hat Sub-Klassen
Konvergenzwinkel c, Neigungswinkel c, Rotationswinkel c

X-ray Diffractionc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

Röntgenbeugungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/XRayDiffraction

X-ray Diffraction is a technique that utilizes the diffraction of X-rays by crystals to determine their atomic arrangement and lattice structure. X-ray diffraction patterns are produced when X-rays strike a crystalline sample, and the resulting pattern provides information about the arrangement of atoms in the crystal lattice.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Diffraktion c

Zeitliche Auflösungc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/TemporalResolution

Zeitliche Auflösung ist die Fähigkeit eines Mikroskopie- oder Bildgebungssystems, zwischen Ereignissen oder Änderungen zu unterscheiden, die zu unterschiedlichen Zeiten auftreten, was entscheidend für die Erfassung dynamischer Prozesse ist.
Source
ChatGPT 3.5
hat Super-Klassen
Auflösung c

Zwischenlinsec zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/IntermediateLense

Eine Linse, die zwischen der Objektivlinse und der Projektorlinse in einem optischen System positioniert ist.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Linse c

Überlagerungsvolumenc zurück zur Übersicht oder Klassenübersicht

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/InteractionVolume

Der Bereich innerhalb einer Probe, in dem ein Teilchenstrahl mit dem Material in Wechselwirkung tritt.
ist definiert durch
https://w3id.org/pmd/mo
hat Super-Klassen
Volumen c

Anmerkungseigenschaften

abbreviationap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: https://w3id.org/pmd/co/abbreviation

abbreviationap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: https://w3id.org/pmd/mo/abbreviation

alt labelap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://www.w3.org/2004/02/skos/core#altLabel

bibliographic citationap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://purl.org/dc/terms/bibliographicCitation

creatorap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://purl.org/dc/elements/1.1/creator

definitionap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://www.w3.org/2004/02/skos/core#definition

definition sourceap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: https://w3id.org/pmd/co/definitionSource

exampleap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://www.w3.org/2004/02/skos/core#example

licenseap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://purl.org/dc/elements/1.1/license

pref labelap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://www.w3.org/2004/02/skos/core#prefLabel

titleap zurück zur Übersicht oder Übersicht der Anmerkungseigenschaften

IRI: http://purl.org/dc/terms/title

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c: Klassen

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Die Autoren bedanken sich beiSilvio Peroni für die Entwicklung von LODE, einer Umgebung zur Live-OWL-Dokumentation, die im Abschnitt Querverweise für die Darstellung verwendet wird, bei Daniel Garijo für die Entwicklung von Widoco, welches für die Templates in dieser Anwendung verwendet wird.